該設(shè)備是針對(duì)代替Wafer顯微鏡目檢,進(jìn)行初步外觀檢查所開(kāi)發(fā)的半自動(dòng)機(jī)型,以機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)為主,包括檢測(cè)表面污染、劃片損傷、尺寸量測(cè)等瑕疵。通過(guò)正面檢測(cè)Wafer,兼容8寸和12寸,可以自動(dòng)生成Mapping圖,自動(dòng)生成報(bào)表,可以存儲(chǔ)照片用于回溯。
該設(shè)備是針對(duì)代替Wafer顯微鏡目檢,進(jìn)行初步外觀檢查所開(kāi)發(fā)的半自動(dòng)機(jī)型,以機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)為主,包括檢測(cè)表面污染、劃片損傷、尺寸量測(cè)等瑕疵。通過(guò)正面檢測(cè)Wafer,兼容8寸和12寸,可以自動(dòng)生成Mapping圖,自動(dòng)生成報(bào)表,可以存儲(chǔ)照片用于回溯。